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Configurations Optimales de Test pour un Processus en Chaine en Fonction de Deux Criteres (Optimal Configurations of Tests for a Sequence of Operations)

L. Etesse, M. Lemaitre and J. P. Richard
Management Science
Vol. 23, No. 9 (May, 1977), pp. 924-934
Published by: INFORMS
Stable URL: http://www.jstor.org/stable/2630773
Page Count: 11
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Configurations Optimales de Test pour un Processus en Chaine en Fonction de Deux Criteres (Optimal Configurations of Tests for a Sequence of Operations)
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Abstract

Sur une chaîne de production où les opérations sont conduites en séquence, le choix des points de test à placer éventuellement après des opérations imparfaites aura une influence sur différents paramètres tels que: coût moyen de production, débit, qualité du produit, niveau d'emploi du personnel... Ces paramètres ne peuvent pas toujours se ramener à un critère unique. Nous présentons un modèle simplifié d'un tel type de chaîne, directement inspiré par les chaînes de semîconducteur, puis une méthode d'optimisation selon un seul critère: le coût de production, et dans une seconde partie une méthode d'optimisation selon deux critères antagonistes: les coût et débit de production. L'hypothèse est faite de tests d'inspection parfaits: tout produit est déclaré bon ou mauvais sans risque d'erreur. On utilise dans les deux cas une procédure de séparation et d'évaluation séquentielles. Un exemple de traitement de cas réel est présenté en annexe. Cette étude est un premier pas vers une optimisation multi-critère de ce type de chaîne de production. // A simplified model of a chain of operations and tests such as is usually found in the fabrication of semiconductor sheets is considered. Location of test points is an initial step towards optimisation of such multicriteria processes: cost, quality of product, etc. A procedure of sequential separation and evaluation is employed as the analytic tool. Solutions were ought to minimise production costs, C, as well as solutions for the competing criteria of C and rate of production, R. Rather than a single solution in the $(R^{-1}-C)$ plane, a set of solutions whose frontier closest to the origin yields the "best" solutions was found. The method was applied to an actual manufacturing process of 10 operations and 10 tests where sheets or a batch of sheets were either discarded or submitted to the next operation as a result of the test.

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